MiniTest 725/735/745涂层测厚仪 德国EPK品牌
MiniTest 725/735/745涂层测厚仪 德国EPK品牌
产品价格:(人民币)
  • 规格:MiniTest 725/735/745
  • 发货地:浙江宁波市
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    商品详情

       MiniTest 725/735/745涂层测厚仪 德国EPK品牌


      MINITEST 725/735/745涂层测厚仪技术数据表SIDSP探头

      探头特性

      F1.5,N0.7,FN1.5

      F2

      F5,N2.5,FN5

      F15

      F

      F

      F

      F

      测量范围

      0-1.5mm

      0-0.7mm

      0-2mm

      0-5mm

      0-2.5mm

      0-15mm

      使用范围

      小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用

      粗糙表面

      标准探头,使用广泛

      厚涂层

      测量原理

      磁感应

      电涡流

      磁感应

      磁感应

      电涡流

      磁感应

      信号处理

      探头内部32位信号处理(SIDSP)

      精确度

      ±(1μm+0.75%读值)

      ±(1.5μm+0.75%读值)

      ±(5μm+0.75%读值)

      重复性

      ±(0.5μm+0.5%读值)

      ±(0.8μm+0.5%读值)

      ±(2.5μm+0.5%读值)

      低端分辨率

      0.05μm

      0.1μm

      1μm

      小曲率半径(凸)

      1.0mm

      1.5mm

      5mm

      小曲率半径(凹,外置探头)

      7.5mm

      10mm

      25mm

      小曲率半径(凹,内置探头)

      30mm

      30mm

      30mm

      小测量面积

      Φ5mm

      Φ10mm

      Φ25mm

      小基体厚度

      0.3mm

      40μm

      0.5mm

      0.5mm

      40μm

      1mm

      连续模式下测量速度

      每秒20个读数

      单值模式下大测量速度

      每分钟70个读数

      MINITEST 725/735/745涂层测厚仪主机

      型号特性

      MINITEST 725

      MINITEST 735

      MINITEST 745

      探头类型

      内置

      外置

      内置外置可换

      数据记忆组数

      10

      10

      100

      存储数据量

      多10,000个

      最多10,000个

      最多100,000个

      统计值

      读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)

      校准程序符合国际标准和规范

      ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准

      校准模式

      出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值

      极限值监控

      声、光报警提示超过极限值

      测量单位

      um,mm,cm;mils,inch,thou

      操作温度

      -10℃-60℃

      存放温度

      -20℃-70℃

      数据接口

      IrDA 1.0(红外接口)

      电源

      2节AA电池

      标准

      DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840ASTM B244,B499,D7091,E376AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

      体积

      157mm x 75.5mm x 49mm

      重量

      约175g

      约210g

      约175g(内置)/230g(外置)


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