CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 

高性能X射线荧光光谱仪

快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度 
简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素 
性能优化，测量元素范围广： 可预设参数
CMI900 提供800多种预设应用参数/方法 
杰出的长期稳定性：  
自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果 
简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正 
坚固耐用的设计

可以在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计  
经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台