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38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
38DL PLUS测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中最常使用的是双晶探头。
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测量 |
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双晶探头测量模式 |
从激励脉冲后的精确延迟到第一个回波之间的时间间隔。 |
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自动回波到回波（可选） |
在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
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穿透涂层测量 （可选） |
利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头） |
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单晶探头测量模式（可选） |
模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。 |
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厚度范围 |
0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量全的范围需要使用单晶选项） |
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材料声速范围 |
0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs） |
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分辨率（可选择） |
低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） |
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探头频率范围
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标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）
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