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| 产品参数 | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | 日本AET | ||
| 产品特性 | 介电常数 | ||
| 是否进口 | 是 | ||
| 产地 | 日本 | ||
| 加工定制 | 否 | ||
| 测量范围 | 介电常数Epsilon：1-15 | ||
| 可测样品状态 | 平面 | ||
| 重复性误差 | 1 | ||
| 外形尺寸 | 400*500 | ||
| 适用范围 | 微晶玻璃 陶瓷 | ||
| 规格 | 日本AET | ||
| 可售卖地 | 全国 | ||
| 类型 | 光度测定仪 | ||
| 型号 | 日本AET | ||
介电常数分析仪器简介：
日本AET微波(高频)介电常数分析仪, 利用微波技术结合高Q腔以及3D电磁场模拟技术，采用德国CST公司的3D电磁类比软件MW-StudioTM，测量材料的高频介电常数，深圳田野仪器-中国市场总代理 此方法保证了介电常数测量结果的精确性。
一、技术参数：
可测试频率范围： 800M～40GHz
介电常数Epsilon：1-15，?? 准确度： ±1，
介电损耗tangent delta：0.1-0.001，? 准确度：±5
共有两种同轴共振腔，每个腔可测五个频点:
TyPe A：? 0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz
TyPe B:? ? 1/3/5/7/9GHz??
二、主要特点：
同轴共振腔适用于不同形状样品。
包括薄膜样品的非破坏性测量，使用简易的逐步操作，内置的反馈振荡器电路可实现精确的量测。
三、应用领域：?
高速数字/微波电路用基底材料 ；滤波器和介电天线用低损耗电介质 ；化学制品；
薄膜与新材料；半导体材料；电子材料（包括CCL和PCB）
陶瓷材料；纳米材料；光电材料等
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日本AET介电常数测定仪 无损诱电率测定装置
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