粗糙度仪Perthometer S2

特征:
•  依照现行标准可实现粗糙度和波度测量
   (DIN EN ISO 3274, 例如: 带通滤波器)
•  重量轻 (不包括内置充电电池)
•  高分辨率的图形显示, 可清晰显示测量结果和轮廓
• 基于自动测量原理和多测量元素, 使得操作更简单
• 通过内置热敏打印机, 快速打印测量记录
• PCMCIA 存储卡可存储测量程序、测量结果和轮廓
• S2Prog 扩展程序, 可简单地建立测量程序

•  用途广泛和简易应用的软件功能, 例如:
-  自动设置标准滤波器和扫瞄长度功能
-  校准和维护周期监察功能
-  弧线滤除功能
-  动态和静态校准程序
-  多达 41 种评定参数, 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
MOTIF, R, W, P 和 D 轮廓及特性曲线, 并可设定
MRC/ADC 不同比例缩放
-  滤波器和扫瞄长度可选
-  公差监控, 以声音和图标提示
-  密码保护功能, 防止错误的设置和修改
-  内置统计功能
-  独立功能按键
-  简易呼出和打印测量记录及各种功能
•  通过 PCMCIA 记忆于进行软件升级
•  SPC 接口可实现 S2 与生产程序连接
•  RS 232 接口可实现数据传输和远程控制

Perthometer S2技术数据
测量原理   探针接触测量法
测量范围
范围/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步长/垂直范围
11,200 测量点/标准扫瞄长度
标准  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
轮廓类型  R, D, P, W (轮廓可例转) 
垂直方向缩放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向缩放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
用于评定长度轮廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
图形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
扫瞄长度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
扫瞄长度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊扫瞄长度 0.56 至 120.00 mm, 可调
(.022 in 至 4.724 in)