PC-LEPTOSKOP是由KARL DEUTSCH 公司提供膜层测厚仪的探头，它只需和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功

能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN 2002来实现。

当启动statwin 2002时，一个真实的涂层测厚仪显示图像就可以显示在个人电脑的屏幕上。所有功能操作只需点击一下鼠标

或键盘。 STATWIN 2002用statwin 2002 ，可以分批储存和管理几乎任何数量的测量数据。文件和归档几乎是无限的。 此

外，该软件附带了大量的统计功能，可以实现测量评估和批次。

除了有测量铁磁性基体上非铁磁涂层的厚度（如钢铁上的漆层或铬层）和导电材料上的非导电层涂层的厚度（如非铁金属上

的漆层），测量范围到1200 μ m的标准探头，我们还有特殊高精度的、能测量不同的小部位或复杂的几何形状的探头，双

晶探头可测量厚度高达12.5mm，我们同时还提供完整的配件。

为固定测试有特别的设计， PC-leptoskop 2050是一个的膜层测厚仪。