德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
产品价格:¥面议(人民币)
  • 规格:完善
  • 发货地:本地至全国
  • 品牌:
  • 最小起订量:1台
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    商品详情

      品牌:德国菲希尔 加工定制:否 型号:X-RAY XDL210/220/230/240
      类型:激光 测量范围:0.0001-3 mm 显示方式:数字
      电源电压:9 V 外形尺寸:570×760×650 mm


      德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪

      FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240
      X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用自动方
      式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层
      及大规模生产的零部件上的镀层。

      德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪

      简介
      FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及
      材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自
      动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
      XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

      典型的应用领域有:
      ? 测量大规模生产的电镀部件
      ? 测量超薄镀层,例如:装饰铬
      ? 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
      ? 全自动测量,如测量印刷线路板
      ? 分析电镀溶液

      XDL 240 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。
      比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。
      由于采用了 FISCHER 完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样
      品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
      设计理念
      FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的 X-
      Y 工作台,当测量门打开时,工作台会自动移到放置样品的位置;马达驱动的 Z 轴系
      统,可编程运行。
      高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频
      窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测
      量位置。
      测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测
      量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。
      带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精确调
      整。
      所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能
      强大而界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。
      XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合
      德国“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法规的规定。




      德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪

      通用 规格
      设计用途 能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液
      分析。
      元素范围 从元素 氯(17) 到 铀(92)
      配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时,*多可同时测定 24 种元素
      设计理念 台式仪器,测量门向上开启
      测量方向 由上往下
      X 射线源
      X 射线管 带铍窗口的钨管
      高压 三档: 30 kV40 kV50 kV
      孔径(准直器) ? 0.3 mm 可选:? 0.1 mm ? 0.2 mm;长方形 0.3 mm x 0.05 mm
      测量点尺寸 取决于测量距离及使用的准直器大小,
      实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致
      *小的测量点大小约 ? 0.2mm
      X 射线探测
      X 射线接收器
      测量距离
      比例接收器
      0 ~ 80 mm,使用专利保护的 DCM 测量距离补偿法
      样品定位
      视频系统
      高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置
      手动聚焦,对被测位置进行监控
      十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)
      可调节亮度的LED照明,激光光点用于精确定位样品
      放大倍数 40x 160x
      电气参数
      电源要求 220 V 50 Hz
      功率 *大 120 W (不包括计算机)
      保护等级 IP40
      尺寸规格
      外部尺寸 宽×深×高[mm]570×760×650
      内部测量室尺寸 宽×深×高[mm]460×495x(参考“样品*大高度”部分的说明)
      重量 120 kg
      环境要求
      使用时温度 10°C 40°C
      存储或运输时温度 0°C 50°C
      空气相对湿度 ≤ 95 %,无结露
      工作台
      设计 马达驱动,可编程 X/Y 平台
      255 x 235 mm
      80 mm/s
      0.01 mm 单向
      300 x 350 mm
      马达驱动,可编程运行
      140 mm
      5 kg,降低精度可达 20kg
      140 mm

      X/Y 平台*大移动范围
      X/Y 平台移动速度
      X/Y 平台移动重复精度
      可用样品放置区域
      Z
      Z 轴移动范围
      样品*大重量
      样品*大高度
      激光(1 级)定位点
      计算单元
      计算机 带扩展卡的 Windows ® 计算机系统
      软件 标准: WinFTM ® V.6 LIGHT
      可选: WinFTM ® V.6 BASICPDMSUPER
      执行标准
      CE 合格标准 EN 61010
      型式许可 作为受完全保护的仪器
      型式许可完全符合德国“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法规的规定。

      德国菲希尔X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪
      订货号
      FISCHERSCOPE X-RAY XDL240  604-498
      如有特殊要求,可与 FISCHER 磋商,定制特殊的 XDL 型号。
      FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen Germany 的注册商标。
      Windows ® Microsoft Corporation 在美国及其他地区的注册商标。
    在线询盘/留言
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