奥林巴斯测厚仪 olympus超声波测厚仪 45MG
奥林巴斯测厚仪 olympus超声波测厚仪 45MG
产品价格：￥面议（人民币）
  • 规格：完善
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    商品详情

      品牌：olympus 加工定制：否 型号：45MG
      类型：超声波 测量范围：0.08-635 mm 显示方式：数显
      电源电压：9 V 外形尺寸：91.1?x?162?x mm


      奥林巴斯超声波测厚仪45MG

      对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量

      使用双晶探头
      45MG测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的剩余厚度。
      这些应用中*常使用的是双晶探头。
      ? ? 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能
      ? ? 当校准过程中出现双回波时，会发出双回波警告
      ? ? 回波到回波/穿透涂层选项可测量带有漆层和涂层的表面
      ? ? 高温测量：温度可高达500?℃

      B扫描成像（基于时间）
      45MG仪器提供的B扫描功能，可在屏幕上将实时厚度读数转换为横截面图像。在观察材料厚度在一定距离上发生的变化时，这个标准功能非常有用。探头一接触到材料表面，就会激活B扫描。冻结*小值功能用于显示扫查区域的*小厚度值。可选45MG数据记录器*多可存储单个B扫描中的10000个厚度读数。

      高温表面
      45MG测厚仪配上D790系列探头（D790、D790? -SM、?D790-RL和D790-SL），是测量高温材料（温度高达?500?℃ ）的理想选择，并可获得稳定的厚度读数。45MG的零位补偿功能，通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化，提高了在高温表面上进行测量的精确性。

      对塑料、金属、复合材料、玻璃、橡胶及陶瓷材料?
      进行厚度测量

      使用单晶探头
      用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我们提供各种率、直径和连接器类型的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。
      ? ? 在使用频率范围为2.25?MHz到30?MHz的单晶探头时，单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量 值。
      ? ? 高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
      ? ? 测量厚度、声速或渡越时间。
      ? ? 自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作。


      单晶软件选项?
      用户使用单晶软件选项，可以完成分辨率高达0.001毫米的极为精确的厚度测量。
      这个选项与范围在2.25?MHz到30?MHz的单晶Microscan探头相兼容。
      ? ? 大多数薄材料和厚材料
      ? ? 壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管件、管道及薄片材料
      ? ? 壁厚薄如0.10毫米的金属容器、钢圈板、机加工部件
      ? ? 汽缸孔、涡轮叶片
      ? ? 玻璃灯泡、瓶子
      ? ? 薄壁玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
      ? ? 曲面部分或内圆角半径较小的容器


      单晶高穿透软件选项?
      用户使用这个选项可在使用低频单晶探头（低到0.5?MHz）的情况下，测量橡胶、玻璃纤维、铸件及复合材
      料等较厚或声波衰减性较强的材料。
      这个选项包含单晶选项。
      ? ? 大多数较厚或声音衰减性较强的材料
      ? ? 厚铸造金属部件
      ? ? 厚橡胶轮胎、履带
      ? ? 玻璃纤维船体、储存罐
      ? ? 复合材料板
      ? ? 对于频率范围为0.5?MHz到1.0?MH的探头，分辨率为0.01毫米

      回波到回波/穿透涂层选项
      回波到回波
      测厚仪使用多个底面回波，显示不计涂层厚度的实际金属厚度：
      ? ? 自动回波到回波?
      ? ? ? 手动回波到回波（仅出现于A扫描选项），可进行以下操作：
      ? - 增益调整
      ? - 扩展空白
      ? - 回波空白

      穿透涂层技术
      使用单个底面回波测量金属的实际厚度。使用这个技术可以分别显示金属和涂层的厚度。这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，要得到金属的厚度，无需去掉表面的漆层和涂层。穿透涂层测量技术使用D7906-SM、D7906-RM和D7908双晶探头。


      应用设置调用
      应用设置调用功能简化了厚度测量操作。用户在选择了任何一个存储探头后，45MG测厚仪即会调出所有与这个内置探头相关的参数。

      存储的标准设置
      45MG仪器带有21个标准单晶探头设置，可用于*常用的测量操作。这些默认探头设置可用于各种各样的厚度测量应用。

      存储的自定义设置
      45MG可*多存储35个自定义单晶探头设置，其中还包括校准信息。用户可以连接适当的探头，并调用设置文件，然后仪器便可进行厚度测量，甚至还可完成*复杂的测厚应用。

      材料声速测量
      45MG仪器可以测量材料的声速。在材料声速与其它属性密切相关的应用中，这个标准功能非常有用。典型的应用包括监控铸造金属的球化程度，以及监控复合材料/玻璃纤维的密度变化。

      缩减率测量
      差值模式和缩减率模式是45MG的标准功能。差值模式显示实际厚度与预先设定的厚度值之间的差异。缩减率计算并显示材料厚度变薄以后厚度缩减的百分比。对经过弯曲变形并将制成车身面板的薄钢板进行的缩减率测量是一个典型的应用。


      奥林巴斯超声波测厚仪45MG参数
      测量
      双晶探头测量模式 从激励脉冲后的精确延迟到第YI个回波之间的时间间隔。
      自动回波到回波?（可选）在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
      穿透涂层测量?（可选）利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度?
      （使用D7906-SM、D7906-RM和D7908探头）
      单晶探头测量模式?
      （可选）
      模式1：? 激励脉冲与第YI个底面回波之间的时间间隔
      模式2：? 延迟块回波与第YI个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块式或水浸式探头）
      模式3：? 在激励脉冲之后，位于第YI个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔?（使用延迟块式或水浸式探头）
      厚度范围 ? 0.080?mm～635?mm，视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量*全的范围需要使用单晶选项）
      材料声速范围 0.508?mm/μs～18.699?mm/μs
      分辨率?（可选择）
      低分辨率：0.1毫米
      标准分辨率：0.01毫米
      单晶选项：0.001毫米
      探头频率范围 标准：2.25?MHz～30?MHz（–3?dB）
      高穿透（单晶选项）：0.50?MHz～30?MHz（–3?dB）

      一般规格
      操作温度范围 –10?℃～50?℃
      键盘 密封、以色彩区分功能的键盘，带有触感及声音反馈
      机壳 防撞击、防水、装有密封垫的机壳，机壳上的接口密
      封。设计符合IP67标准。
      外型尺寸（宽?x?高?x?厚）? 总体尺寸：91.1毫米?x?162毫米?x?41.1毫米
      重量 431克
      电源 3节AA电池/USB电源供应
      电池工作时间
      ３节AA碱性电池：20到21小时?
      ?3节AA镍氢电池：22到23小时
      ?3节AA锂离子电池：35到36小时
      标准 设计符合EN15317标准。

      显示
      彩色透反QVGA显示 液晶显示，显示屏尺寸：54.61毫米?x?41.15毫米
      检波 全波、RF波、正半波、负半波（波形选项）

      输入/输出
      USB 2.0从接口
      存储卡 *大容量：2?GB可插拔MicroSD存储卡

      内置数据记录器（可选）
      数据记录器 45MG通过USB或MicroSD卡识别、存储、调用、清除
      及传输厚度读数、波形图像和仪器配置信息。
      容量 475000个厚度测量读数，或20000个带厚度值的波形
      文件名称和ID编码 32位字符的文件名，20位字符的字母数字位码
      文件结构 6个标准的或自定义的用于特定应用的文件结构
      报告? 机载报告总结了数据统计、带有位置信息的*小值/*大值、*小值回顾、文件比较及报警报告
    在线询盘/留言
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