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EL硅片缺陷测试仪简介:光伏组件质量日益成为人们关注的焦点。太阳电池的切片、扩散、焊接、层压、和装框等工艺都可能造成内部缺陷,如裂纹、断栅、黑片、碎片、电阻率不均匀等。这些肉眼看不见的缺陷 将会影响转换效率,降低可靠性,缩短使用寿命,降低品质质量。中心自主研发的太阳电池红外检测技术可以方便快捷地检测出上述缺陷,具有灵敏度高、检测速度快、结果形象等优点,是提升光伏组件品质的关键设备。在线式设计具有自动化程度高等特点。红外检测可以全面掌握太阳电池内部问题,为改进生产工艺提供依 据,提升产品质量,可以对问题组件进行及时返修,降低损失。此项技术已经获得国家专利保护,一项发明专利和实用新型专利已经获得授权,多项专利正在受理中。
EL硅片缺陷测试仪设备:
1) 针对微裂纹、碎片、断栅、虚焊、波纹等缺陷
2) 红外成像技术、超高分辨率
3) 高速检测 :3s-8s;
4) 最大测试面积:2m×1.6m
5) 灵敏度:小于0.2um;
6) 具有图象自动识别功能;
7) 在线式设计;
8) 软件不断升级
EL硅片缺陷测试仪产品特点:
进口关键部件:采用原装进口红外相机,保证了设备的整体品质。
全封闭式光路设计:封闭式光路设计可保证设备长期稳定运,更好的适应不同的使用环境
强大专用测试软件:全中文显示界面,可自动手动扫描图形码编号并按编码进行文件保存。可放大扫描图像显示细节,方便判断。
EL硅片缺陷测试仪应用范围
该设备用于检测太阳能电池组件有无隐裂、碎片、虚焊、断栅及不同转换效率单片电池异常现象。
EL硅片缺陷测试仪设备主要参数:
型号规格 |
EL140S-M |
有效测试面积 |
1200mm X 2100mm |
分辨率 |
140万像素或600万像素 |
灵敏度 |
可检测出裂纹宽度小于0.2μm |
测试时间 |
1s—60s自由设定 |
测试方式 |
无接触式 |
电源参数 |
单相220V 10A 最大加载电压80V,最大加载电流 10A |
配置 |
测试机台(含红外成像仪)、电脑、专业软件 |