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泰立仪器专业代理美国GE工业无损检测。
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美国GE粗晶探头
纵波探头能适用于检测粗晶材料、原始的铸造材料，奥氏体和奥氏体焊缝等。
对于普通探头，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。我们一直致力于解决这个问题，我们选择不同焦点的单晶探头和TR探头进行实验，得到检测粗晶材料的最佳探头参数。
具有可更换保护膜的直探头 |
频率（MHZ） |
接触面（mm） |
尺寸Φ(mm) |
|||
0.5 |
40 |
34 |
高阻尼 |
|||
1 |
40 |
34 |
高灵敏度 |
|||
1 |
33 |
28 |
非常好的信噪比 |
|||
0.5 |
40 |
34 |
||||
1 |
40 |
34 |
高阻尼，高信噪比 |
|||
1 |
30 |
24 |
复合材料压电晶片 |
|||
2 |
30 |
24 |
最好的灵敏度和信噪比 |
|||
纵波斜探头—单晶系列，复合材料压电晶片 |
频率（MHZ） |
接触面（mm） |
角度（ °） |
深度范围 |
要求的探头线 |
|
|
WRY 60 WSY 45-2 WSY 60-2 WSY 45-4 WSY 70-4 |
2 2 2 2 2 2 4 4 4 |
48 x 25 48 x 25 48 x 25 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 |
45 60 70 45 60 70 45 60 70 |
5 - 100 5 - 80 5 - 55 6 - 25 4 - 20 3 - 15 3 - 30 3 - 20 2 - 15 |
} MPKL 2 } MPKL 2 } MPKL 2 |
|
双晶系列纵波斜探头—复合材料压电晶片 |
频率（MHZ） |
接触面（mm） |
角度（ °） |
|||
1,8 1,8 1,8 4 44 |
53 x 29 53 x 29 53 x 29 30 x 15 30 x 15 30 x 15 |
45 60 70 45 60 70 |
15 - 70 10 - 60 5 - 45 2 - 30 1.5 - 20 1.5 - 20 |
} SEKL 2 } SEKN 2 |
||
