CH-1-S型薄膜测厚仪--国产
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产品价格：￥1（人民币）
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    商品详情
      、CH－1－S型薄膜测厚仪产品简介
          本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
      二、技术指标
          量    程：0-1mm　
          分 度 值：0.001mm
          上测头曲率半径：15-50mm
          测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N
          测量精度：100vm以内＜1vm 
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