平板探测器(新板上市)

X射线成像装置 动态平板探测器

无损检测X射线成像装置 动态平板探测器

数字工业广泛应用于:无损检测成像；X-RAY成像；

1613XCD 是款高性能的平板探测器，具有低功耗、

快速和可靠的图像传输、图像质量高等特点，同时 1613XCD

具备高度灵敏、稳定的自动曝光感。

描述 规格

探测器类别 非晶硅/闪烁体 CsI

图像尺寸 (mm) 159.25×128

像素矩阵 1280×1024

像素间距 (um) 125

A/D 转换 (bits) 16

灵敏度 (LSB/nGy, RQA5) 1.4

*大线性剂量 (uGy, RQA5). 40

调制传递函数 @ 0.5 LP/mm 0.84/0.86/-

调制传递函数 @1.0 LP/mm 0.65/0.67/-

调制传递函数 @ 1.5 LP/mm 0.47/0.49/-

调制传递函数 @ 2.0 LP/mm 0.32/0.35/-

调制传递函数 @ 2.5 LP/mm 0.22/0.24/-

调制传递函数 @ 3.0 LP/mm 0.14/0.16/-

调制传递函数 @3.5 LP/mm 0.10/0.11/-

空间分辨率 (LP/mm) 4

X-射线工作范围 (kV) 40/-/150

探测器对外接口接口 TYPE-C

数据接口类型 千兆网口

功率 (W) 12

交流电源 (V) 100/-/240 AC

交流电源频率 (Hz) 50/-/60

适配器输出电压 (V) 24 DC

探测器尺寸 ：195X 160X15mm

探测器重量 (kg,不含线缆) 0.8±0.1

探测器外壳材料 碳板,铝合金

存储温度 (oC) -20/-/55

工作温度 (oC) 5/-/35

存储和运输湿度 (%RH) 10/-/75

工作湿度 (%RH) 10/-/75