1768-CNBR   plc  

.功能与参数测试 
1.<测试仪>对器件的检测,仅能反应出截止区,放大区和饱和区.但不 
能测出工作频率的高低和速度的快慢等具体数值等. 
2.同理对TTL数字芯片而言,也只能知道有高低电平的输出变化.而无 
法查出它的上升与下降沿的速度. 
四.晶体振荡器 
1.通常只能用示波器(晶振需加电)或频率计测试,万用表等无法测量, 
否则只能采用代换法了. 
2.晶振常见故障有:a.内部漏电,b.内部开路c.变质频偏d.外围相连电 
容漏电.这里漏电现象,用<测试仪>的VI曲线应能测出. 
3.整板测试时可采用两种判断方法:a.测试时晶振附近既周围的有关 
芯片不通过.b.除晶振外没找到其它故障点. 
4.晶振常见有2种:a.两脚.b.四脚,其中第2脚是加电源的,注意不可随 
意短路. 
五.故障现象的分布 
1.电路板故障部位的不完全统计:1)芯片损坏30%, 2)分立元件损坏30%, 
3)连线(PCB板敷铜线)断裂30%, 4)程序破坏或丢失10%(有上升趋势). 
2.由上可知,当待修电路板出现联线和程序有问题时,又没有好板子,既 
不熟悉它的连线,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.  

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1766-MM1

1768-CNB

1768-CNBR

1768-EWEB

1768-L43S

1769-AENTR

1769-AENTRK

1769-ARM

1769-ASCII

1769-BA

1769-BOOLEAN

1769-CJC

1769-CLL1

1769-CLL3

1769-CRL1

1769-CRL3

1769-CRR1

1769-CRR3

1769-ECL

1769-ECLK

1769-ECR

1769-ECRK

1769-HSC

1769-IA16

1769-IA16K

1769-IA8I

1769-IA8IK

1769-IF16C

1769-IF16CK

1769-IF16V

1769-IF16VK

1769-IF4

1769-IF4FXOF2F

1769-IF4I

1769-IF4IK

1769-IF4K

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1769-IF4XOF2K

1769-IF8

1769-IF8K

1769-IG16

1769-IM12

1769-IQ16

1769-IQ16F

1769-IQ16K

1769-IQ32

1769-IQ32K

1769-IQ32T

1769-IQ6XOW4

1769-IR6

1769-IR6K

1769-IT6

1769-IT6K

1769-L16ER-BB1B

1769-L18ER-BB1B

1769-L18ERM-BB1B

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1769-L19ER-BB1BK

1769-L24ER-QB1B

1769-L24ER-QBFC1B

1769-L24ER-QBFC1BK

1769-L27ERM-QBFC1B

1769-L30ER

1769-L30ER-NSE

1769-L30ERK

1769-L30ERM

Allen-Bradley（罗克韦尔），Schneider（施耐德），Siemens（西门子），GE（通用电气），ABB，
Omron（欧姆龙），IFM（易福门），Emerson（艾默生），Fanuc（发那科），Foxboro（福克斯波罗），
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Beckhoff（倍福），Yaskawa（安川），Pepperl+fuchs（倍加福），B&R（贝加莱），Danfoss（丹佛斯）
，Fuji（富士），Festo（费斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（横河），
Heidenhain（海德汉），Hydac（贺德克），Hirschmann（赫斯曼），Keyence（基恩士），Moeller（穆勒），
Kuka（库卡），Kollmorgen（科尔摩根），Lenze（伦茨），Rosemount（罗斯蒙特），LG，LS（产电），
Rexroth（力士乐），Leuze（劳易测），Norgren（诺冠），Pilz（皮尔兹），Pro-face（普洛菲斯），
SMC，Sanyo（三洋），Delta（台达），Turck（图尔克），Sick（施克），Sharp（夏普），Eaton（伊顿）
,bently (本特利）