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EMG对中整流器LLS675/02美国进口
IEC谐波测试通过上面的分析,我们清楚了IEC61000-4-7和IEC61000-3-2之间的区别和关系。所以要实现IEC谐波测试,首先要保证测试设备满足IEC61000-4-7的标准要求,其测试结果才是正确的。其次测试设备能够按照IEC61000-3-2中的类别划分要求,针对不同类别的设备,给出对应的结果,并且能够与标准限值做相应的对比,给出结论,这样的测试才是真正有用、有效的设备。ZLG致远电子提供的PA系列功率分析仪可以在满足IEC61000-4-7的标准下,实现IEC61000-3-2的谐波测量对比要求,给出终的结论。
德国EMG公司电动执行机构在性能、设计和使用方面的主要特点如下:
EMG 伺服阀 LLS 675/02
EMG 伺服阀 SV1-10/32/315-6
EMG 伺服阀 SV1-10/8/315/6SV1-10/16/120/6
EMG 伺服阀 SV1-10/48/315-6
EMG 伺服阀 SV1-10/16/315-6
EMG传感器KLW 300.012
EMG 位置传感器 KLW 150.012
EMG 传感器 KLW 225.012
EMG 位置传感器 KLW 360.012
EMG 位置传感器 KLW150.012
EMG 位置传感器 KLW225.012
EMG 位置传感器 KLW300.012
EMG 位置传感器 KLW450.012
EMG 位置传感器 KLW600.012
EMG 伺服阀 SV1-10/8/315/6
EMG 伺服阀 SV1-10/48/315/6
EMG 伺服阀 SV1-10/32/100/6
EMG 伺服阀 SV1-10/8/120/6
EMG 伺服阀 SV1-10/4/120/6
EMG 伺服阀 SV2-16/125/315/1/1/01
EMG 滤芯 HFE400/10H
EMG 位移传感器 KLM300/012
EMG 对中整流器 LLS675/02
EMG 光 LIC1075/11
EMG 电路处理板 EVK2.12
EMG 电源 BK11.02
EMG 处理器 MCU16.1
EMG VKI3-11-200/1600/750/M/E/W/A/
EMG 对中光源 LID2-800.2C
EMG 对中光源 LID2-800.2C
EMG 电动执行器 DMC2000-B3-160-SMC002-DCS
EMG 位移传感器 KLW300.012
EMG 电路板 LIC2.01.1
EMG 推动杆EB1250-60IIW5T
EMG 推动杆EB800-60II
EMG 推动杆EB220-50/2IIW5T
EMG 推动杆EB300-50IIW5T
EMG 发射光源L1C770/01-24VDC/3.0A
EMG 制动器ED121/6 2LL5 551-1
EMG 光电探头EVK2-CP/800.71L/R
EMG 放大器EVB03/235351
EMG 对中控制SMI 2.11.1/2358100134300
EMG 电路板SMI 2.11.3/235990
EMG 泵DMC 249-A-40
EMG 泵DMC 249-A-50
EMG 泵DMC 30 A-80
EMG 泵DPMC 59-V-8
EMG 位置传感器LWH-0300
EMG 电动执行器DMCR59-B1-10
EMG 伺服阀SV1-10/32/315/6
EMG 伺服阀SV1-10/32/315/8
EMG 伺服阀SV1-10/48/315/8
EMG 伺服阀SV2-10/64/210/6
EMG对中光源LID2-800.2C
EMG KLW300-012
CPC LS14.02
KLW 360.012
EPC EVM2-CP/1300.71/L/R
EPC CCDPro 5000
CPC LS13.01
EMG光电式测量传器 EVM2-CP/1850 71/L/R
EMG高频光源 LLS875/01
EMG数字式控制器 ICON SE+VS/AE1054
EMG适配器 EVB03.01
EMG对中整流器LLS675/02美国进口
半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP1.5 180B3043
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP3.5 180B3032
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP0.6 180B3048
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP2.2 180B3045
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵 APP8.2 180B3008
Danfoss 丹佛斯 柱塞泵_APPW8.2_83bar_138.5L_180B3078
柱塞杠套件\APP21-46\180B4166
柱塞套件\APP261500&APP30-46\180B4199
机械密封\APP21-46180B4631
冲洗阀套件\APP21-46&APPWHC15-30\180B4170
斜盘套件\APP21\1200&APP26\1500180B4167
阀板套件\APP21-26180B4165
接口法兰套件\APP21-46&APPWHC15-30\180B4633
保持球套件\APP21-26&APP301500\180B4164
密封套件\APP21-46180B4632不含机械密封