二槽式冷热冲击试验机-二槽式冷热温冲击试验机配电图
二槽式冷热冲击试验机-二槽式冷热温冲击试验机配电图
产品价格:¥25600(人民币)
  • 规格:ts-80
  • 发货地:本地至全国
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  • 最小起订量:1台
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    商品详情

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      二槽式冷热冲击试验机控制系统说明:135 3237 0059S

      1.采用彩色触摸式10.4吋液晶萤幕控制器,由温度感应器传送信号,再以微电脑自动驱动S.S.R.控制冷,热温度

      2.内部动作程序由P.L.C.与控制器连线控制,防止误动作

      3.本系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击

      4.机器故障时,配有自动停机回路及警示讯号

      5.机器运转状况均在LCD画面上显示

      6.预冷区及预热区自行控制,当温度到达时,自行执行测试。

      7.测试区执行时间可设定0-999H59M

      8.测试区执行次数最高可设定999cycle可自由设定。

      9.具有冷段或热段先执行之选择模式。

      10.程式设定118组可任选。


      二槽式冷热冲击试验机主要技术指标:

      原理及作用:该产品适用于电子元器件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

      1、内部有效容积:50

      2、内部有效尺寸:深350×宽350×高410(mm)

      3、外形尺寸:深880×宽840×高1480mm

      4、温度范围:-50℃~+150℃(任意调节)

      5、升温速率:≥3/min(空载时),常温25℃~+150℃需40分钟

      6、降温速率:≥1/min(空载时),常温25℃~-50℃需70分钟

      7、温度波动度:±0.5

      8、温度偏差:≤±2℃(空载时)

      二槽式冷热冲击试验机用途

      适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGAPCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

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