商铺名称:苏州捷士佳自动化设备有限公司
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区分 | 种类 | 形状 | 检测中心距离 和检测范围 |
分辨率 | 光束直径 | 型号 | 激光等级 |
小型·超 高精度 |
小光点型 | 10±1mm | 0.25μm | 约φ20μm | HL-C201AE | CLASS1 | |
线性光点型 | 约20×700μm | HL-C201AE-MK | |||||
超高精度 | 小光点型 | 30±5mm | 0.25μm | 约φ30μm | HL-C203BE | CLASS2 | |
线性光点型 | 约30×1200μm | HL-C203BE-MK | |||||
中距离·高精度 | 小光点型 | 110±15mm | 0.25μm | 约φ80μm | HL-C211BE | CLASS2 | |
HL-C211CE | CLASS3R | ||||||
线性光点型 | 约80×1700μm | HL-C211BE-MK | CLASS2 | ||||
HL-C211CE-MK | CLASS3R | ||||||
长距离·高精度 | 小光点型 | 350±50mm | 0.5μm | 约φ250μm | HL-C235BE | CLASS2 | |
HL-C235CE | CLASS3R | ||||||
线性光点型 | 约250×3500μm | HL-C235BE-MK | CLASS2 | ||||
HL-C235CE-MK | CLASS3R |
种类 | 小光点型 | 线性光点型 | 小光点型 | 线性光点型 | |||||
项目 | 型号 | HL-C235BE | HL-C235BE-MK | HL-C235CE | HL-C235CE-MK | ||||
设置模式 | 扩散反射时 | 正反射时 | 扩散反射时 | 正反射时 | 扩散反射时 | 正反射时 | 扩散反射时 | 正反射时 | |
检测中心距离 | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | 350mm | 348mm | |
检测范围( 注2 ) | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | ±50mm | ±42mm | |
分辨率(平均次数)(注3) | 2.0μm [256次] 0.5μm [4096次] | ||||||||
线性度( 注4 ) | ±0.03% F.S. | ||||||||
温度特性 | 0.01% F.S./ ℃ | ||||||||
光源 | 红色半导体激光 级别2(JIS/IEC) 最大输出1mW、投光波峰波长658nm |
红色半导体激光 级别2(JIS/IEC) 最大输出5mW、投光波峰波长658nm | |||||||
光束直径( 注5) | 约φ250μm | 约250×3500μm | 约φ250μm | 约250×3500μm | |||||
受光元件 | 线性图像传感器 |
(注1): 未指定时的检测条件如下:连接控制器、电源电压:24V DC、周围温度=+20℃、取样周期40μs、平均次数256次、检测中心距离、由白陶瓷制成的检测物体、数字测定值。
(注2):取样周期为20μs及10μs时的检测范围如下表所示。
型号 | HL-C235□-MK | ||
设置模式 | 扩散反射时 | 正反射时 | |
取样周期 | 20μs | 0~+50mm | 0~+42mm |
10μs | +36~+50mm | +36~+42mm |
(注3)通过将P-P值换算成距离得到这些值。P-P值表示通过检测中心距离测定值的分布。
(注4)此值表示采用本公司的标准检测物体进行检测时,相对于数字变位输出的理想直线的误差。此值会根据检测对象的特征而改变。
(注5) 这是检测中心距离上的值。以中心光强度的1/e2(约13.5%)定义这些值。如果定义区域外有光泄漏,并且检测点周围有高于检测点本身的强反射,检测结果可能会受到影响。
HL-C235BE
SUNX日本神视变位传感器:超高速·高精度激光位移传感器 0512-67599599SUNX日本神视变位传感器
光/反射型
超高速·高精度激光位移传感器
HL-C235
超高速·高精度激光位移传感器
HL-C2
超高速激光变位传感器 [CCD型]
HL-C1
微型激光位移传感器
LM10
光/透过型
超小型激光线性传感器
HL-T1
LED线性传感器
LA-300
磁性位移
高速·高精度涡电流型数字位移传感器
GP-X
高精度涡电流型位移传感器
GP-A
HL-C235BE HL-C235 SUNX日本神视变位传感器:超高速·高精度激光位移传感器 0512-67599599