MiniTest2100|MiniTest2100涂层测厚仪
MiniTest2100|MiniTest2100涂层测厚仪
产品价格:¥28000(人民币)
  • 规格:280x120x68mm
  • 发货地:上海
  • 品牌:
  • 最小起订量:1套
  • 免费会员
    会员级别:试用会员
    认证类型:未认证
    企业证件:未通过
    认证信息:未认证

    商铺名称:上海鼎徵仪器仪表设备有限公司销售

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    商品详情
      德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点:
      MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
      所有型号均可配所有探头;
      可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
      可使用一片或二片标准箔校准。
      涂层测厚仪MiniTest1100

      MiniTest1100/2100/3100/4100涂层测厚仪功能
      型号
      1100
      2100
      3100
      4100
      MINITEST 存储的数据量
      应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
      1
      1
      10
      99
      每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度极限值)
      -
      1
      10
      99
      可用各自的日期和时间标识特性的组数
      -
      1
      500
      500
      数据总量
      1
      10000
      10000
      10000
      MINITEST统计计算功能
      读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
      -
      读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      -
      -
      组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
      -
      -
      组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      -
      -
      存储显示每一个应用行下的所有组内数据
      -
      -
      -
      分组打印以上显示和存储的数据和统计值
      -
      -
      显示并打印测量值、打印的日期和时间
      -
      其他功能
      透过涂层进行校准(CTC)
      -
      在粗糙表面上作平均零校准
      利用计算机进行基础校准
      补偿一个常数(Offset)
      -
      -
      外设的读值传输存储功能
      -
      保护并锁定校准设置
      更换电池是存储数值
      设置极限值
      -
      -
      公英制转换
      连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别最大最小值
      -
      -
      连续测量模式中测量稳定后显示读数
      -
      -
      浮点和定点方式数据传送
      组内单值延迟显示
      -
      连续测量模式中显示最小值

      可选探头参数(探头图示)
      所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
      F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
      N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
      FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
      探头
      量程
      低端
      分辨率
      误差
      最小曲率
      半径(凸/凹)
      最小测量
      区域直径
      最小基
      体厚度
      探头尺寸



      F05
      0-500μm
      0.1μm
      ±(1%±0.7μm)
      1/5mm
      3mm
      0.2mm
      φ15x62mm
      F1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      0.5mm
      φ15x62mm
      F1.6/90
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面/6mm
      5mm
      0.5mm
      φ8x170mm
      F3
      0-3000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      0.5mm
      φ15x62mm
      F10
      0-10mm
      5μm
      ±(1%±10μm)
      5/16mm
      20mm
      1mm
      φ25x46mm
      F20
      0-20mm
      10μm
      ±(1%±10μm)
      10/30mm
      40mm
      2mm
      φ40x66mm
      F50
      0-50mm
      10μm
      ±(3%±50μm)
      50/200mm
      300mm
      2mm
      φ45x70mm


      FN1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ15x62mm
      FN1.6P
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面
      30mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ21x89mm
      FN2
      0-2000μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      5mm
      F0.5mm
      N50μm
      φ15x62mm



      N02
      0-200μm
      0.1μm
      ±(1%±0.5μm)
      1/10mm
      2mm
      50μm
      φ16x70mm
      N.08Cr
      0-80μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      2.5mm
      2mm
      100μm
      φ15x62mm
      N1.6
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      1.5/10mm
      2mm
      50μm
      φ15x62mm
      N1.6/90
      0-1600μm
      0.1μm
      ±(1%±1μm)
      平面/10mm
      5mm
      50μm
      φ13x170mm
      N10
      0-10mm
      10μm
      ±(1%±25μm)
      25/100mm
      50mm
      50μm
      φ60x50mm
      N20
      0-20mm
      10μm
      ±(1%±50μm)
      25/100mm
      70mm
      50μm
      φ65x75mm
      N100
      0-100mm
      100μm
      ±(1%±0.3mm)
      100mm/平面
      200mm
      50μm
      φ126x155mm
      CN02
      10-200μm
      0.2μm
      ±(1%±1μm)
      平面
      7mm
      无限制
      φ17x80mm
      注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
      N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
      CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。

      探头图示
      FN1.6
      0~1600μm,φ5mm
      两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      FN1.6P
      0~1600μm,φ30mm
      两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度


      F05
      0~500μm,φ3mm
      磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等
      量程低端分辨宰很高(0.1μm)

      F1.6
      0~1600μm,φ5mm
      磁性测头
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      F3
      0~3000μm,φ5mm
      磁性测头
      可用于较厚的覆层

      F1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      90度磁性测头
      尤其适合于在管内壁测量
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      F10
      0~10mm,φ20mm
      适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等


      F20
      0~20mm,φ40mm
      适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等

      F50
      0~50mm,φ300mm
      适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层

      N02
      0~200μm,φ2mm
      非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      N0.8Cr
      0~80μm,φ2mm
      适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层

      N1.6
      0~1600μm,φ2mm
      非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      N1.6/90
      0~1600μm,φ5mm
      磁性测头,适于测量较薄的绝缘覆层
      尤其适合在管内壁测量
      量程低端分辨率很高(0.1μm)

      N10
      0~10mm,φ50mm
      非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

      N20
      0~20mm,φ70mm
      非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等

      N100
      0~100mm,200mm
      非磁性测头,适于测量较厚的绝缘覆层,如橡胶玻璃等
      CN02
      10~200μm,φ7mm
      用于测量绝缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板
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