37DL PLUS超声波测厚仪双晶片测量方式：从激励脉冲到第一个回波之间的精确延时

37DL PLUS透过涂层测量：利用一次背反射回波（使用D7906-SM 和 D7908 探头），测量涂层厚度和真实金属厚度。

37D LPLUS透过漆层回波对回波：消除漆层或涂层，在两个连续背反射回波之间的时间间隔。

37DL PLUS单晶片测量模式：
模式1：测量激励脉冲和第一个背反射回波之间的时间间隔。
模式2：测量在激励脉冲之后的第一个界面回波与第一个背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水浸式探头。
模式3：测量在激励脉冲之后，位于第一个界面回波之后的相邻背反射回波之间的时间间隔。使用延迟线或水

37DL PLUS超声波测厚仪浸式探头
氧化皮/沉积物测量功能（选择项）：测量金属基底厚度和管子内壁氧化皮沉积物的厚度。

37DL PLUS超声波测厚仪氧化皮沉积物的厚度范围：
M2017: 0.010 - 0.050英寸 (0.25 - 1.25 毫米)
M2091: 0.006 - 0.050英寸 (0.15 - 1.25 毫米)

厚度范围：: 0.003 - 25.000 英寸 (0.080 - 635.00毫米), 取决于材料、探头、表面条件、温度和设置选择。

材料速度速率范围: 0.020 - 0.551 英寸/微秒 (0.508 - 13.998 毫米/微秒)

37DL PLUS超声波测厚仪显示精度，任选： 

电池： 6 伏镍镉可充电电池组，或现场可替换的碱性“AA”电池。

电池寿命：额定25小时（正常测量模式，背光关闭）

快速充电器： 2小时快速充电器，使用通用电压

探头频率范围:　2-30 兆赫 (-3 dB)

工作温度:　-10°C 到 +50°C (+14° 到 122°F)

键盘： 密封、触摸式、声音反馈的彩色键盘。

机箱: 带有密封连接器的防水, 接口密封的聚碳酸脂材料箱子。符合IP-65标准。

液晶显示器： 带有背光照明、对比度面板可调。 显示区域　4.0 x 3.39 英寸 (102 x 86 毫米)

危险区域操作：根据MIL-STD-810E 规定，方法 511.3，步骤1 。

整流：射频波、正半波、负半波，以及全波整流。

显示范围和延迟控制

公制、英制单位

尺寸：9.375 x 5.45 x 1.5英寸 (238 x 138 x 38 毫米)

重量： 2.1磅(0.95公斤)

37DL PLUS超声波测厚仪内置数据存储器

通过RS-232串口，37DL PLUS可识别、存储、调用、清除以及传输厚度读数、波形图像和仪器设置信息。波特率、字节长度、停止位以及奇偶位可以在面板上调节。

最大存储量：60,000 厚度读数或4,500 个带厚度的波形。

文件名、ID号和注释：32位字符文件名，20位字符数字字母位置码，每个位置码代表4种注释。

文件结构： 7 个标准文件结构或用户针对应用定义的文件结构。

报告： 在仪器上带有概要统计的报告、最小/最大值及其位置，文本比较以及报警报告。屏幕上显示当前读数和先前读数的比较。

37DL PLUS超声波测厚仪标准配置

带有波形的37DL PLUS型数字超声厚度仪， 50-60 Hz交流或电池供电
#8226; D790-SM探头，5.0兆赫, 0.434英寸 (11毫米) 端部直径，温度范围 -5° 到932°F
#8226; 充电器/AC (100， 115， 230 VAC)
#8226; 内置数据存储器
#8226; WIN37DL PLUS界面程序
#8226; 试块，耦合剂
#8226; RS-232 I电缆
#8226; 带脖套的保护袋
#8226; 操作手册

37DL PLUS超声波测厚仪选购件