美国GE高温超声检测探头

对于普通探头，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。我们一直致力于解决这个问题，我们选择不同焦点的单晶探头和TR探头进行实验，得到检测粗晶材料的最佳探头参数。

与此同时，我们得到了奥氏体材料制造商的大力支持。根据我们的经验和实验，我们针对各种粗晶粒材料设计了相应的探头，这些探头都取得了最佳的效果。此外，这些测试结果还获得了最佳信噪比，并且所有的粗晶探头都通过纵波探伤。

技术发展状况

通过与德国联邦材料检测研究所（BAM）合作,最新研制的斜探头和双晶探头可连续工作至250℃。当接触面温度升高到250℃以上时，测量后的探头必需降底温度。斜探头允许的最大接触温度大约是350℃，但是在如此高的温度下延迟块性能会受到一定的影响。此外，双晶直探头可以承受的最高接触温度大约为800℃。根据温度的不同，选用的偶合剂也不同:Z G T 可以达到2 5 0℃，而Z G M可以达到550℃。在超过550℃的温度下，可以用玻璃粉偶合。这些特殊设计的探头同样可以在-197℃的低温下进行测量。

斜探头

W45B2GV

W60B2GV

W70B2GV

W45B4GV

W60B4GV

W70B4GV

双晶直探头

SE B4 KV

超声探头高性能硬质陶瓷接触式直探头

典型的波宽：75%

K1G

K2G

K4G

K2N

K4N

K5N

K6N

典型的波宽：100%

G1N

G2N

G4N

G2KB

G5KB