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纵波探头能适用于检测粗晶材料、原始的铸造材料，奥氏体和奥氏体焊缝等。
对于普通探头，由于粗晶粒结构所产生的噪声幅度与小缺陷的回波幅度基本一致，这样容易造成缺陷漏检。所以，检测粗晶材料时要选用特殊探头。有些探头可以检测部分奥氏体焊缝，并得到一些满意的结果，这主要取决于被检测材料的声学特性。我们一直致力于解决这个问题，我们选择不同焦点的单晶探头和TR探头进行实验，得到检测粗晶材料的最佳探头参数。
与此同时，我们得到了奥氏体材料制造商的大力支持。根据我们的经验和实验，我们针对各种粗晶粒材料设计了相应的探头，这些探头都取得了最佳的效果。此外，这些测试结果还获得了最佳信噪比，并且所有的粗晶探头都通过纵波探伤。 具有可更换保护膜的直探头 频率（MHZ） 接触面（mm） 尺寸Φ(mm) 0.5 40 34 高阻尼 1 40 34 高灵敏度 1 33 28 非常好的信噪比 0.5 40 34 1 40 34 高阻尼，高信噪比 1 30 24 复合材料压电晶片 2 30 24 最好的灵敏度和信噪比 纵波斜探头—单晶系列，复合材料压电晶片 频率（MHZ） 接触面（mm） 角度（ °） 深度范围 要求的探头线 WRY 60 WSY 45-2 WSY 60-2 WSY 45-4 WSY 70-4 2 2 2 2 2 2 4 4 4 48 x 25 48 x 25 48 x 25 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 28 x 13 45 60 70 45 60 70 45 60 70 5 - 100 5 - 80 5 - 55 6 - 25 4 - 20 3 - 15 3 - 30 3 - 20 2 - 15 } MPKL 2 } MPKL 2 } MPKL 2 双晶系列纵波斜探头—复合材料压电晶片 频率（MHZ） 接触面（mm） 角度（ °） 1,8 1,8 1,8 4 44 53 x 29 53 x 29 53 x 29 30 x 15 30 x 15 30 x 15 45 60 70 45 60 70 15 - 70 10 - 60 5 - 45 2 - 30 1.5 - 20 1.5 - 20 } SEKL 2 } SEKN 2
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