下面介绍几个生产厂家的平面成像板技术参数：

 一、 Agfa 公司：该公司提供11×16 英寸硅板，为12 位（灰度4096），精度127μm，Agfa 公司也组装了Hologic 公司的14 X 17 英寸的硒板。这两种板都能够满足现场温度要求。
二、 GE 公司：目前GE 公司提供4 种数字化硅板，平板尺寸从63 到256 平方英寸，可以以静态模式操作，也可以以每秒30 幅频速度操作，所有的4 个板是14 位（16000 灰度）对比度，空间分辨率达9 线对/mm（55μm），没有几何放大。
三、 Hologic Inc 公司：该公司的14 X 17 英寸的硒板，精度为3.6 线对/mm（139μm）、14 位（16000 灰度），Hologic 也卖7.2 线对/mm(70μm )的平板。
四、 PerkinElmer 公司：该公司的最高精度的平板是16 X 16 英寸的，精度为200μm。其8 X 8 英寸平板的精度为400 μm，采集速度为7 幅频/秒，其最高接受能量可达25 MeV。所有产品的对比度16 位或65000 灰度。
五、 Varian公司：该公司的12 X 16英寸的硅板，精度为3.97线对/mm(126μm)。在高速模式时，采集速度为30 幅频/秒，精度为1.29 线对/mm（388 μm），Varian 也卖高能量的平板，接受能量可达9 MeV，这样便有可能检测27 英寸以下厚度的铝铸件。其产品的对比度为12 位或4096 灰度，也有65000 灰度的版本。

随着硒板和硅板之间的对抗和炒做，另外的一些平板技术似乎被忽略了，如COMS X 射线，来自美国Envision 公司的扫描平板，是由线性X 射线探测器阵列和内置在平板内的驱动系统，该板厚为3 英寸，最大可测量尺寸为24 X 36英寸，该技术原理是，扫描器横扫过平板（类似文挡扫描仪），在X 射线触发闪烁材料之前，对准一个要通过的窄曹，该材料囤积在光纤的末端（见右边的图示）。为避免CMOS 探测器被X 射线破坏，光纤的末端与X 射线扫描头成直角连接COMS 探测器，探测器被放置在钨铅屏蔽罩中。该系统能够承受高达10MeV 的高能量。Envision 公司销售线阵列达16 英尺长的CMOS 系统，该系统被固定在零件穿过的自动机械或传送带系统中。采集54 X 84 英寸的图像仅需110 秒钟。Envision 公司的平板和线性阵列空间分辨率为80μm、对比度为12 位或4096 灰度。该公司还销售常规的4 X 4 英寸的CMOS 平板阵列空间分辨率为50μm 及12 位对比度。